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谷物硬度對(duì)谷物品質(zhì)評(píng)價(jià)的意義谷物的重要性和質(zhì)量評(píng)估需求：谷物作為人類飲食中不可少的一部分，為人類提供了必需的營(yíng)養(yǎng)素。其品質(zhì)評(píng)估對(duì)于確保人們健康營(yíng)養(yǎng)的飲食至關(guān)重要。谷物同時(shí)也是畜牧業(yè)飼料的主要來(lái)源，原料質(zhì)量直接影響到最終產(chǎn)品的品質(zhì)。因此，對(duì)谷...

vinita高頻解凍機(jī)的技術(shù)優(yōu)點(diǎn)無(wú)論厚度如何，都能均勻解凍。內(nèi)部加熱方式回火?！龀拇髷呈堑嗡?。冷凍產(chǎn)品本身會(huì)從內(nèi)部產(chǎn)生熱量。表面不會(huì)因過(guò)度融化而松散，內(nèi)部能均勻解凍，減少風(fēng)味成分的損失，保持冷凍產(chǎn)品的新鮮度?！鰰r(shí)間就是金錢快速解凍時(shí)間為...

振動(dòng)式/音叉式液位開(kāi)關(guān)SC型的特點(diǎn)及用途分析~易于設(shè)置、衛(wèi)生、ATEX防爆結(jié)構(gòu)~模型SC型高頻吸收自動(dòng)修正/串聯(lián)諧振型（防粘連型）防爆規(guī)格SC-d型防爆結(jié)構(gòu)ATEX主要用途方法測(cè)量對(duì)象測(cè)量對(duì)象示例振動(dòng)類型粉質(zhì)一般樹(shù)脂顆粒、水泥、粉煤灰、碎玻...

超聲波物位計(jì)（ABM-U型）的競(jìng)爭(zhēng)優(yōu)勢(shì)標(biāo)準(zhǔn)傳感器、衛(wèi)生級(jí)傳感器顯示器、繼電器控制器、專用軟件（雷達(dá)型通用）*附帶RS-232C、RS-485通信端口。*集成控制器特征1.不受冷凝、蒸汽或氣體的影響自診斷/自動(dòng)調(diào)節(jié)功能自動(dòng)清潔功能檢測(cè)換能器表...

makino中等風(fēng)向/風(fēng)速傳送器設(shè)備介紹測(cè)量中等風(fēng)力|測(cè)量范圍~40m/s|風(fēng)阻約50m/s光電AF540由發(fā)光二極管和光電晶體管檢測(cè)。它每旋轉(zhuǎn)一圈發(fā)射8個(gè)脈沖，由于旋轉(zhuǎn)時(shí)沒(méi)有負(fù)載，因此可以在超輕風(fēng)中使用。（與風(fēng)向儀VF516配套使用）三種...

什么是瞬時(shí)電壓跌落保護(hù)裝置？近年來(lái)，由于發(fā)電和輸電設(shè)備的改進(jìn)，電能質(zhì)量得到顯著改善，停電現(xiàn)象變得極為罕見(jiàn)。然而，由于雷擊等自然現(xiàn)象造成的瞬時(shí)電壓下降和瞬時(shí)停電是無(wú)法避免的。玉井地區(qū)每年有20多例病例。此外，近年來(lái)，由于異常天氣條件，雷擊發(fā)生...

日本kdn可切換恒流工作/恒光強(qiáng)度工作的熒光燈照明電源介紹特征它具有以前熒光燈照明電源系列的所有功能，并增加了新的功能。新功能?寬輸入電壓AC100V～240V?可通過(guò)一臺(tái)設(shè)備同時(shí)進(jìn)行多臺(tái)調(diào)光的比例控制操作?一鍵調(diào)節(jié)傳感器水平?通過(guò)RS23...

日本nissinsan擺動(dòng)式對(duì)中規(guī)與尋點(diǎn)器的比較擺動(dòng)式定心規(guī)的特點(diǎn)超越尋點(diǎn)器系列的超高精度三維測(cè)量裝置。該單元可以測(cè)量參考位置、內(nèi)徑/外徑、定心、角度、槽寬、高度等。內(nèi)置超高靈敏度CT板，無(wú)抖音現(xiàn)象。*顫動(dòng)現(xiàn)象：當(dāng)觸針接觸工件時(shí)，由于電阻的...

nissinsan非磁性觸筆的運(yùn)用優(yōu)勢(shì)當(dāng)磁力支架放置在加工中心的工作臺(tái)上時(shí)，磁力會(huì)傳遞到工作臺(tái)上，工件就會(huì)被磁化。如果保持原樣，將會(huì)導(dǎo)致類似于DVD的測(cè)量誤差。使用非磁性觸筆可以進(jìn)行高精度測(cè)量。無(wú)磁手寫(xiě)筆10個(gè)特點(diǎn)不存在磁力引起的測(cè)量誤差。...

適用于檢查光學(xué)薄膜、片材、觸摸屏等表面劃痕、異物、缺陷設(shè)備介紹光學(xué)分辨率1.8μm/速度檢測(cè)！用于基材和金屬表面的缺陷檢查！概述這是使用高分辨率相機(jī)和高精度XY平臺(tái)的二維檢查裝置。適用于檢查光學(xué)薄膜、片材、觸摸屏等表面劃痕、異物、缺陷。光學(xué)...