日本富士fujiwork大范圍照射式紅外水分計

產(chǎn)品型號： IM-3SMV 型號2000M

所屬分類：水分計

產(chǎn)品時間：2024-09-05

簡要描述：日本富士fujiwork大范圍照射式紅外水分計IM-3SMV 型號2000M
可以在寬范圍和不平坦的表面上測量水分。
在保持光纖型ding級型號IM -3 CSV的分辨率和功能的同時，可以進行多種測量。

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日本富士fujiwork大范圍照射式紅外水分計IM-3SMV 型號2000M

可以在寬范圍和不平坦的表面上測量水分。

新

IM-3SMV 型號2000M

在保持光纖型ding級型號IM -3 CSV的分辨率和功能的同時，可以進行多種測量。

廣泛的測量范圍支持更多不同的主題。

• 通過測量大φ190mm，與光纖類型相比，可以進行3倍以上的寬范圍測量。
• 也可以測量顆粒狀沉積物的表面，例如顆粒/膠囊/各種原料。

三波長法測量穩(wěn)定。

• 使用3波長方法實現(xiàn)高分辨率測量。

通過高速模擬計算進行實時測量。

• 通過執(zhí)行模擬計算，幾乎沒有時間滯后，可以實時測量，同時，可以以模擬*的高分辨率進行測量。

日本富士fujiwork大范圍照射式紅外水分計IM-3SMV 型號2000M

使用通用零件輕松設(shè)置每個場景。

• 通過將每個角度固定到主機底部的框架，可以將其牢固地安裝在任何懸掛或抬高支架的場景中。
• 它的安裝位置無關(guān)緊要，例如聯(lián)機/脫機/在桌面等。

新

IM-3SMV 型號2000M

在保持光纖型ding級型號IM -3 CSV的分辨率和功能的同時，可以進行多種測量。

廣泛的測量范圍支持更多不同的主題。

• 通過測量大φ190mm，與光纖類型相比，可以進行3倍以上的寬范圍測量。
• 也可以測量顆粒狀沉積物的表面，例如顆粒/膠囊/各種原料。

三波長法測量穩(wěn)定。

• 使用3波長方法實現(xiàn)高分辨率測量。

通過高速模擬計算進行實時測量。

• 通過執(zhí)行模擬計算，幾乎沒有時間滯后，可以實時測量，同時，可以以模擬*的高分辨率進行測量。

使用通用零件輕松設(shè)置每個場景。

• 通過將每個角度固定到主機底部的框架，可以將其牢固地安裝在任何懸掛或抬高支架的場景中。
• 它的安裝位置無關(guān)緊要，例如聯(lián)機/脫機/在桌面等。